Produkter for electronic equipment (12)

• 2,4 mm opp til 6,4 mm Ø alu og kobber • Opp til 6 mm Ø stål & 5 mm Ø rustfritt stål • Opp til flensdiameter 11,4 mm • Rivelegemer lengder over 30 mm • Trekkraft opp til 11 770 N ved 6-7 bar lufttrykk Produktivitet og besparelsespotensial • Opptil 40 blinde niter kan behandles hver minutt • Ingen utdannet personell kreves for drift • Kan enkelt integreres i helautomatiske produksjonssystemer • Elektronisk systemkontroll • Intuitiv menyveiledning via navigasjons- og funksjonstaster • Funksjonsvisning • Vedlikeholdsvisning og enkel feildiagnose • Kundespesifikk programvaremodifikasjon er mulig • Ideell for applikasjoner som ikke krever noen prosessovervåking • Rivelegemer kastes av vakuumsystem • Fjærbelastet utløser system som et valgfritt tillegg tilgjengelig • Kan integreres i systemet eller opereres uavhengig • Grensesnitt for ekstern minneprogrammert kontrollsystem (SPS) kan realiseres via GESIPA®-grensesnittet

I henhold til spesifikasjonene fra våre kunder utvikler, designer og produserer vi elektroniske komponenter, systemer og enheter.

Wälzkolbenpumpene i den innovative HiLobe®-serien tilbyr gjennom individuell hastighetsregulering et nominelt sugekapasitetområde på 520 – 2.100 m3/t, og er dermed perfekt tilpasset kundespesifikke krav. Sugekapasitet: 520 – 2.100 m3/t Integrert lekkasjerate: 1 · 10-6 Pa m3/s. Nominell effekt ved maksimal hastighet: 2 – 3,5 kW

En nett simuleringsanlegg er i stand til å gjenskape alle kjente nettspenninger fra 1-fase 110V til 3-fase 1000V, samt nettfrekvenser på 50 og 60 Hertz sinusformet. Nett simuleringsanlegg: En nett simuleringsanlegg er i stand til å gjenskape alle kjente nettspenninger fra 1-fase 110V til 3-fase 1000V, samt nettfrekvenser på 50 og 60 Hertz sinusformet. Slik kan du teste og kontrollere maskinene dine med nasjonal og internasjonal orientering i din fabrikk. Bruksområder: • Maskinbygging • Hvitevarer • Laboratorieutstyr • Testing av: Komplette maskiner og anlegg opp til 630 KW

Styringer utgjør kjernen i automatiseringen. Vi har utviklet individuelle styringer for forskjellige applikasjoner. Som regel er hver drivmotor tilknyttet en aksjekontroller med mikroprosessor. En overordnet prosessor eller en PC kan betjene mange aksjekontrollere. På denne måten kan systemer bygges uten begrensning på antall akser. Programmering, idriftsettelse og testfunksjoner forenkles og presenteres oversiktlig gjennom den modulære oppbyggingen og flere parallelle prosesser. Alle kundespesifikke kommandoer er rene tekstkommandoer. Kommunikasjonen med PC-en skjer via USB eller seriell. Vår masterkort kan betjene opptil 12 aksjekontrollere via en tilkobling til PC-en. En interpolering over 12 akser (ikke i sanntid) kan realiseres. Programmet i PC-en beregner for eksempel kompliserte romkurver og overfører pakkevis de ønskede posisjonene til ROTRA masterkortet.

Se mer betyr å jobbe raskere. For å gjøre en rask skanning av store komponenter (opptil 6’’), gir DM3 XL et eksepsjonelt makroobjektiv. Med en forstørrelse på 0,7x fanger det på en gang et synsfelt på 35,7 mm, som er 30 % mer enn med andre konvensjonelle skanningsobjektiver. Med makroobjektivet har feil ingen sjanse: - Øke avkastningen - Pålitelig oppdage en mangel ved kanten eller midten av en plate - Oppdage ujevn tykkelse av en radialfilm

Alle NanoTest-stasjoner kombinerer presise målinger med høy hastighet, dokumentert pålitelighet og brukervennlighet. Allsidigheten kvalifiserer stasjonene ikke bare for kvalitetskontroll i høy volum, men også for krevende utviklingsapplikasjoner. Denne kvalifikasjonen bidrar til å skille godt fungerende enheter fra de med middelmådig ytelse. På denne måten unngås unødvendig behandling av lavkvalitets enheter tidlig, og mulige problemer under waferproduksjon vil bli avdekket. NanoTest-W karakteriserer den optiske og elektriske oppførselen til VCSEL eller Silicon Photonics-chips på wafer-nivå, mens NanoTest-C brukes for laserdioder, mottakere og passive enheter på bar- eller chip-nivå.

På grunn av den individuelle hastighetskontrollen tilbyr Roots-pumpene i den innovative HiLobe®-serien et nominelt pumpetempo på 520 - 2 100 m³/t og kan tilpasses perfekt til kundespesifikke krav. Generelt trenger Roots-pumper en bakpump som er tilpasset gassstrømmen og som er egnet for applikasjonen for å fungere. pumpetempo: 520 – 2 100 m³/t Integrert lekkasjerate: 1 · 10^-6 Pa m³/s Nominell effekt ved maksimal hastighet: 2 – 3,5 kW

Pålitelig opto-elektronisk karakterisering for DC- og RF-verdier Opto-elektronisk teststasjon NanoTest PIC HD oppfyller alle krav til testing av høy-densitet fotoniske integrerte kretser, som silisium fotoniske strukturer eller aktive PIC-er. Probe-kort med opptil flere hundre kontakter gir tilkoblingen for DC- og RF-målinger.

NanoHybrid gir en stor grad av allsidighet. Den aktive justerings-, test- og monteringsstasjonen kombinerer ulike monteringsmetoder, inkludert liming, laser-sveising eller selektiv laser-lodding. I tillegg tilbyr stasjonen opto-elektronisk testkapasitet. Derfor er NanoHybrid ideelt egnet for utvikling og småseriproduksjon i produksjonsbedrifter eller i forskningsinstitutter. I et slikt produktutviklingsområde må en aktiv justeringsstasjon håndtere opto-elektroniske og andre presisjonsenheter med varierende størrelser og egenskaper.

NanoTest VCSEL måler VCSEL på wafer-nivå eller Chip on Carrier med hensyn til deres optiske og elektriske egenskaper. Testeren rommer wafere med en diameter på opptil 6 tommer (150 mm), og som et alternativ kan også større diametre integreres. Et spesielt grensesnitt montert på chucken gjør det også mulig å teste Chip on Carrier-enheter. Et høypresisjons bevegelsessystem med XYZ- og rotasjonsjustering bringer wafer-chucken i den respektive måleposisjonen. Først skjer elektrisk kontakt, støttet av et sidekamera. En høypresisjons strømkilde leverer driftstrømmen for VCSEL-en som testes.

Hastighet er viktig i inspeksjon, prosesskontroll eller analyse av defekter og feil innen mikroelektronikk og halvledere. Jo raskere du oppdager en defekt, jo raskere kan du reagere. Med et stort synsfelt gjør inspeksjonssystemet DM3 XL det mulig for teamet ditt å identifisere defekter raskere og øke ytelsen. Dra nytte av det 30 % utvidede synsfeltet fra det unike makroobjektivet. DM3 XL bruker LED-belysning for alle kontrastmetoder. LED-belysning gir en konstant fargetemperatur og tilbyr ekte fargebilder på alle intensitetsnivåer. - Øk ytelsen din - Pålitelig oppdagelse av utilstrekkelig utvikling på kanten eller i midten av waferen - Oppdag uregelmessige radielle lagtykkelser - Fangst og behandling av realistiske fargebilder på alle intensitetsnivåer - Reproduserbare resultater